荧光计

善时 EDX1200 X荧光光谱仪 最小检出限:1ppm

产品描述

ROHS有害元素分析、金属元素分析、电镀层厚度分析、全元素分析于一体的测试软件

电镀层可以是镀金、镀银、镀镍、镀锡、镀锌等镀层

独特的MLSQ-FP分析软件可以内置无限多标样数据,极大的提高了测试精度和测试范围

采用多道脉冲分析器

一次可同时分析样品中25个金属的含量极成分

软件支持无标样分析,无标样条件下误差小于1%,可任意进行定性定量分析,使用灵活

直观的分析谱图,元素分布一目了然

物理测量,不改变样品性质分析样品不被破坏,被测样品可以是固体、粉末、液体等

具有多种光谱拟合分析处理技术

1Smooth(波峰光滑处理)

2PickupRemoval(拾取峰去除)

3Escapepeak(逃逸峰处理)

4)BackgroundRemoved(背景去处)

5)BlankSubtraction(空白峰位去除)

6)ComptonPeak(康普顿波峰处理)

7)Deconvolute(去卷积积分处理)

技术参数

测量元素范围:11Na~92(U)

膜厚分析精度:0.05um

元素含量分析范围:1ppm99.99%

多次测量重复性误差小于0.1%

长期工作稳定性误差小于0.1%

检测时间:100-120

样品腔尺寸:190×190×54mm

工作环境温度:15-30

工作环境湿度:≤65%

工作电压:AC220V(建议使用者配UPS稳压电源

标准配置

光谱仪主机计算机准直器载物片操作手册

应用领域

RoHS、金属膜厚度、工业镀层厚度测量、冶炼、玩具、无卤化分析、电子电器、土壤、催化剂、矿石、原材料成份分析等

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