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nanoandmore/Q-WM190-SSS/Q-WM190-SSS-10/Box of 10 AFM Probes

价格
￥11934.00
货号：Q-WM190-SSS-10
浏览量：127
品牌：NanoAndMore
服务
全国联保
正品保证
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签订合同
商品描述

Cantilever:

F:190kHz
C:48N/m
L:225µm

Applications:

PremountedAFMProbes

Description:

NANOSENSORS™SSS-NCLRprobesaredesignedfornon-contactmodeortappingmodeAFM.TheyareofferedasanalternativetotheNANOSENSORS™highfrequencynoncontacttype(NCH).TheSSS-NCLR isrecommendedifthefeedbackloopofthemicroscopedoesnotaccepthighfrequencies(400kHz)orifthedetectionsystemneedsaminimumcantileverlength>125µm.Comparedtothehighfrequencynon-contacttypeNCHthemaximumscanningspeedisslightlyreduced.ThisAFMprobecombineshighoperationstABIlitywithoutstandingsensitivityandfastscanningability.

ForenhancedresolutionofnanostructuresandmicroroughnessweofferourSuperSharpSilicon™tipwithunrivalledsharpness.

Theprobeoffersuniquefeatures:
  • excellenttiprADIusofcurvature
  • typicalaspectratioat200nmfromtipapexintheorderof4:1
  • highlydopedsilicontodissipatestaticcharge
  • highmechanicalQ-factorforhighsensitivity
  • precisealignmentofthecantileverposition(within+/-2µm)whenusedwiththeAlignmentChip
  • compatIBLewithPointProbe®PlusXY-AlignmentSeries

PremountedAFMprobeonaQuesantT-plateforQuesantAFMsystems.BasedonaNANOSENSORSSSS-NCLRAFMprobe.
Thereflexcoatingisanapproximately30nmthickaluminumcoatingonthedetectorsideofthecantileverwhichenhancesthereflectivityofthelaserbeambyafactorofabout2.5.FurThermoreitpreventslightfrominterferingwithinthecantilever.Thevirtuallystress-freecoatingisbendingthecantileverlessthan2%ofthecantileverlength.

AFMTip:

    • AFMCantilever:

  • Beam
  • 225µm(215-235µm)*
  • 38µm(30-45µm)*
  • 7µm(6-8µm)*
  • 48N/m(21-98N/m)*
  • 190kHz(146-236kHz)*
    • *guaranteedrange NanoAndMore 横向-(xy)-校准标准 (2D200)200 nm 间距精确横向校准的标准产品描述标准(2D200)用于对 AFM 扫描机制进行非常精确的 xy 校准。该标准由蚀刻到硅芯片中的具有 200nm 间距的倒置方形金字塔的二维晶格组成。有源区位于芯片的中心，四周是 FindMe 结构。倒金字塔的格子构成了活动区域。硅芯片粘在直径为 12 毫米的不锈钢样品架上。该支架可以磁性或机械固定。该产品将通过 Gel-Pak® 载体运输。本标准是与德国国家标准权威机构 PTB（Physikalisch Technische Bundesanstalt）密切合作制定的。因此，PTB 能够根据国际准则认证该标准。请直接通过www.ptb.de联系工作组 5.25 Scanning Probe Metrology 。Gel-Pak® 是 Delphon Industries 的注册商标