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蚂蚁淘在线 / 品牌中心 / NanoAndMore / nanoandmore/CP-CONT-SiO/CP-CONT-SiO-D-5/Box of 5 AFM Probes

nanoandmore/CP-CONT-SiO/CP-CONT-SiO-D-5/Box of 5 AFM Probes

价格
￥6301.15
货号：CP-CONT-SiO-D-5
浏览量：121
品牌：NanoAndMore
服务
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签订合同
商品描述

Cantilever:

F:13kHz
C:0.2N/m
L:450µm

Applications:

ColloidalAFMProbes
SphereAFMTips

Description:

ThenewsQube®colloidalprobecombinesthewell-knownfeaturesoftheprovenNANOSENSORS™ContseriessuchashighapplicationversatilityandcompatibilitywithmostcommercialSPMswithareproducIBLesphererADIusinsteadofasharptip.Theexcellent radiusandtheminimizedvariationofdiameterprovidereproduciblesignals.

CONTAFMprobesaredesignedforcontactmode(repulsivemode)AFMimaging.Thissensorcanalsobeusedforforce-distancespectroscopymodeorpulsedforcemode(PFM).TheCONTtypeisoptimizedforhighsensitivityduetoalowforceconstant.. 

Thesocalled"ColloidalProbeTechnique",wheresinglecolloidsareattachedtoAFMcantileversforforcemeasurements,opensthechanceforabetterunderstandingoffundamentalinteractionsinavarietyoffields.

Examplesareadhesionphenomena,particle-surface-interactions,mechanicalproperties,sUSPensions,hydrodynamicsandboundaryslip-tonamejustsomeoutofanincreasingnumberofapplications.

 Theprobeoffersuniquefeatures:

       -spherematerial:silicondioxide(SiO2)
       -excellentspherediameter:
         A=2µm,B=3.5µm,C=6.62µm,D=10.2µm,orE=15µm(all+/-5%)
         Duetodifferentmassestheresonancefrequencycandiffer.
         PleasechooseA,B,C,D,orE whenordering!
       -highlydopedsiliconcantilevertodissipatestaticcharge
       -chemicallyinert
       -highmechanicalQ-factorforhighsensitivity
       -precisealignmentofthecantileverpositionwhenusedtogetherwiththeAlignmentchip
         (within+/-2µm)
       -compatiblewithPointProbe®PlusXY-AlignmentSeries

None

AFMTip:

    • AFMCantilever:

  • Beam
  • 450µm(440-460µm)*
  • 50µm(42.5-57.5µm)*
  • 2µm(1-3µm)*
  • 0.2N/m(0.02-0.77N/m)*
  • 13kHz(6-21kHz)*
    • *typicalrangeThisproductfeaturesalignmentgroovesonthebacksideoftheholderchip. NanoAndMore 横向-(xy)-校准标准 (2D200)200 nm 间距精确横向校准的标准产品描述标准(2D200)用于对 AFM 扫描机制进行非常精确的 xy 校准。该标准由蚀刻到硅芯片中的具有 200nm 间距的倒置方形金字塔的二维晶格组成。有源区位于芯片的中心，四周是 FindMe 结构。倒金字塔的格子构成了活动区域。硅芯片粘在直径为 12 毫米的不锈钢样品架上。该支架可以磁性或机械固定。该产品将通过 Gel-Pak® 载体运输。本标准是与德国国家标准权威机构 PTB（Physikalisch Technische Bundesanstalt）密切合作制定的。因此，PTB 能够根据国际准则认证该标准。请直接通过www.ptb.de联系工作组 5.25 Scanning Probe Metrology 。Gel-Pak® 是 Delphon Industries 的注册商标