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蚂蚁淘在线 / 品牌中心 / NanoAndMore / nanoandmore/PPP-LFMR/PPP-LFMR-W/Box of 380 AFM Probes

nanoandmore/PPP-LFMR/PPP-LFMR-W/Box of 380 AFM Probes

价格
￥87913.80
货号：PPP-LFMR-W
浏览量：127
品牌：NanoAndMore
服务
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商品描述

Cantilever:

F:23kHz
C:0.2N/m
L:225µm

Applications:

LateralForceModeAFMProbes(LFM)

Description:

ThenewPointProbe®Plus(PPP)combinesthewell-knownfeaturesoftheprovenPointProbe®seriessuchashighapplicationversatilityandcompatibilitywithmostcommercialSPMswithafurtherreducedandmorereproducIBLetiprADIusaswellasamoredefinedtipshape.Theexcellenttipradiusandtheminimizedvariationintipshapeprovidemorereproducibleimagesandenhancedresolution.

ForlateralorfrictionforcemicroscopyNANOSENSORS™offersaspecialtypeofAFMprobe(LFM:lateralforcemicroscopy).Thissensortypeisoptimizedforahighsensitivitytolateralorfrictionforcesbyanextremelysoft,thincantilever.

Theprobeoffersuniquefeatures:

  • excellenttipradiusofcurvature
  • highlydopedsilicontodissipatestaticcharge
  • Alcoatingondetectorsideofcantilever
  • highmechanicalQ-factorforhighsensitivity
  • precisealignmentofthecantileverposition(within+/-2µm)whenusedwiththeAlignmentChip
  • compatiblewithPointProbe®PlusXY-AlignmentSeries
Thereflexcoatingisanapproximately30nmthickaluminumcoatingonthedetectorsideofthecantileverwhichenhancesthereflectivityofthelaserbeambyafactorofabout2.5.FurThermoreitpreventslightfrominterferingwithinthecantilever.Thevirtuallystress-freecoatingisbendingthecantileverlessthan2%ofthecantileverlength.

AFMTip:

    • AFMCantilever:

  • Beam
  • 225µm(215-235µm)*
  • 48µm(40-55µm)*
  • 1µm(0.1-2µm)*
  • 0.2N/m(0.01-1.87N/m)*
  • 23kHz(1-57kHz)*
    • *guaranteedrangeThisproductfeaturesalignmentgroovesonthebacksideoftheholderchip. NanoAndMore 横向-(xy)-校准标准 (2D200)200 nm 间距精确横向校准的标准产品描述标准(2D200)用于对 AFM 扫描机制进行非常精确的 xy 校准。该标准由蚀刻到硅芯片中的具有 200nm 间距的倒置方形金字塔的二维晶格组成。有源区位于芯片的中心，四周是 FindMe 结构。倒金字塔的格子构成了活动区域。硅芯片粘在直径为 12 毫米的不锈钢样品架上。该支架可以磁性或机械固定。该产品将通过 Gel-Pak® 载体运输。本标准是与德国国家标准权威机构 PTB（Physikalisch Technische Bundesanstalt）密切合作制定的。因此，PTB 能够根据国际准则认证该标准。请直接通过www.ptb.de联系工作组 5.25 Scanning Probe Metrology 。Gel-Pak® 是 Delphon Industries 的注册商标