nanoandmore/HR-MFM-225C3_0-ML1-R/HR-MFM-225C3_0-ML1-R-5/Box of 5 AFM Probes

价格
¥6603.48
货号:HR-MFM-225C3_0-ML1-R-5
浏览量:103
品牌:NanoAndMore
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商品描述

Cantilever:

F:75kHz
C:3N/m
L:225µm

Applications:

MagneticAFMProbes

Description:

HighresolutionmagneticprobetipwithCo-alloyhardmagneticcoating.
Thin(ML1)Co-alloyhardmagneticcoatingontipsideofthecantilever.
Aluminium-reflexcoating(R)onthebacksideofthecantilever.Withoutorspecialcoatinguponrequest.

AFMTip:

  • AFMCantilever:

  • Beam
  • 225µm
  • 35µm(32-38µm)*
  • 3N/m
  • 75kHz
  • *typicalrange NanoAndMore 横向-(xy)-校准标准 (2D200)200 nm 间距精确横向校准的标准产品描述标准(2D200)用于对 AFM 扫描机制进行非常精确的 xy 校准。该标准由蚀刻到硅芯片中的具有 200nm 间距的倒置方形金字塔的二维晶格组成。有源区位于芯片的中心,四周是 FindMe 结构。倒金字塔的格子构成了活动区域。硅芯片粘在直径为 12 毫米的不锈钢样品架上。该支架可以磁性或机械固定。该产品将通过 Gel-Pak® 载体运输。本标准是与德国国家标准权威机构 PTB(Physikalisch Technische Bundesanstalt)密切合作制定的。因此,PTB 能够根据国际准则认证该标准。请直接通过www.ptb.de联系工作组 5.25 Scanning Probe Metrology 。Gel-Pak® 是 Delphon Industries 的注册商标