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nanoandmore/HQ:CSC17/Pt/HQ:CSC17/Pt-50/Box of 50 AFM Probes

价格
￥14320.80
货号：HQ:CSC17/Pt-50
浏览量：73
品牌：NanoAndMore
服务
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正品保证
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商品描述

Cantilever:

F:13kHz
C:0.18N/m
L:450µm

Applications:

ConductiveAFMProbes

Description:

Cantileversofthe17serieswiththelowspringconstantareusedincontactmodeAFMmostly.ItispossIBLetoadjustthescanningparameterstominimizethetip-sampleforce.Imagingintappingmodegivesthetruetopographyofthesoftsamples.

Probeswithoverallconductivechemicallyinert30nmPtcoatingonthetipandbacksideofthecantilever.ResultingprobetiprADIusisabout30nm.
The30nmconductingPtcoatingiscontinuousfromthetipendtothebulkoftheSiliconchip.Thecoatingcoversboththetipandthebackside.

AFMTip:

    • AFMCantilever:

  • Beam
  • 450µm
  • 50µm
  • 2µm
  • 0.18N/m(0.06-0.4N/m)*
  • 13kHz(10-17kHz)*
    • *typicalrangeThisproductfeaturesalignmentgroovesonthebacksideoftheholderchip. NanoAndMore 横向-(xy)-校准标准 (2D200)200 nm 间距精确横向校准的标准产品描述标准(2D200)用于对 AFM 扫描机制进行非常精确的 xy 校准。该标准由蚀刻到硅芯片中的具有 200nm 间距的倒置方形金字塔的二维晶格组成。有源区位于芯片的中心，四周是 FindMe 结构。倒金字塔的格子构成了活动区域。硅芯片粘在直径为 12 毫米的不锈钢样品架上。该支架可以磁性或机械固定。该产品将通过 Gel-Pak® 载体运输。本标准是与德国国家标准权威机构 PTB（Physikalisch Technische Bundesanstalt）密切合作制定的。因此，PTB 能够根据国际准则认证该标准。请直接通过www.ptb.de联系工作组 5.25 Scanning Probe Metrology 。Gel-Pak® 是 Delphon Industries 的注册商标