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蚂蚁淘在线 / 品牌中心 / NanoAndMore / nanoandmore/ElectriAll-In-One/AIOE-50/Box of 50 AFM Probes

nanoandmore/ElectriAll-In-One/AIOE-50/Box of 50 AFM Probes

价格
￥14479.92
货号：AIOE-50
浏览量：127
品牌：NanoAndMore
服务
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签订合同
商品描述

Applications:

ConductiveAFMProbes

Description:

VersatilemonolithicsiliconAFMprobewith4differentplatinumcoatedcantileversonasingleAFMholderchipforvariousapplications:contactmode,forcemodulationmode,softtappingmodeandhighfrequencytapping/non-contactmodeandelectricmodessuchas: 

  • scanningcapacitancemicroscopy(SCM)
  • electrostaticforcemicroscopy(EFM)
  • Kelvinprobeforcemicroscopy(KFM)

TheshortcantileverendismarkedbyatrapezoidalpatternvisIBLewithbareeyes.

Therotatedtipsallowformoresymmetricrepresentationofhighsamplefeatures.TheconsistenttiprADIiensuregoodresolutionandreproducibility.

TheAFMholderchipfitsmostcommercialAFMsystemsasitisindustrystandardsize.Itiscompatiblewith:

  • Bruker/Veeco/DigitalInstruments
  • Keysight/Agilent/MolecularImaging
  • AsylumResearch
  • ParkSystems
  • JEOL
  • JPK
  • etc.

Themainadvantageofthisproductcomparedtoregular,single-cantileverAFMprobesisthefreedomtochooseintheverylastmomenttherightcantileverforeachapplication.YoudontneedtostockvariousAFMProbetypesanymore.Nevertheless,thisproductisnotmeantasasubstitutiontocomparablesingle-cantileverAFMprobes,becausethegeometryofeachoneoftheElectriAll-In-Onecantileversdiffersfromthegeometryofcomparablespecializedsingle-cantileverAFMprobes.

BudgetSensorsoffersconsistenthighqualityatalowerprice!

Electricallyconductivecoatingof5nmChromiumand25nmPlatinumonbothsidesofthecantilever.Thiscoatingalsoenhancesthelaserreflectivityofthecantilever.

AFMTip:

  • Rotated
  • 17µm(15-19µm)*
  • 15µm(10-20µm)*
  • <25=""nm="">
  • 20°-25°frontview,25°-30°fromside,10°attheapex

    • AFMCantilevers:

    CantileverA-ContactMode
  • Beam
  • 500µm(490-510µm)*
  • 30µm(25-35µm)*
  • 2.7µm(1.7-3.7µm)*
  • 0.2N/m(0.04-0.7N/m)*
  • 15kHz(10-20kHz)*
    • CantileverB-ForceModulation
  • Beam
  • 210µm(200-220µm)*
  • 30µm(25-35µm)*
  • 2.7µm(1.7-3.7µm)*
  • 2.7N/m(0.4-10N/m)*
  • 80kHz(50-110kHz)*
    • CantileverC-SoftTapping
  • Beam
  • 150µm(140-160µm)*
  • 30µm(25-35µm)*
  • 2.7µm(1.7-3.7µm)*
  • 7.4N/m(1-29N/m)*
  • 150kHz(70-230kHz)*
    • CantileverD-TappingMode
  • Beam
  • 100µm(90-110µm)*
  • 50µm(45-55µm)*
  • 2.7µm(1.7-3.7µm)*
  • 40N/m(7-160N/m)*
  • 350kHz(200-500kHz)*
    • *typicalrange NanoAndMore 横向-(xy)-校准标准 (2D200)200 nm 间距精确横向校准的标准产品描述标准(2D200)用于对 AFM 扫描机制进行非常精确的 xy 校准。该标准由蚀刻到硅芯片中的具有 200nm 间距的倒置方形金字塔的二维晶格组成。有源区位于芯片的中心，四周是 FindMe 结构。倒金字塔的格子构成了活动区域。硅芯片粘在直径为 12 毫米的不锈钢样品架上。该支架可以磁性或机械固定。该产品将通过 Gel-Pak® 载体运输。本标准是与德国国家标准权威机构 PTB（Physikalisch Technische Bundesanstalt）密切合作制定的。因此，PTB 能够根据国际准则认证该标准。请直接通过www.ptb.de联系工作组 5.25 Scanning Probe Metrology 。Gel-Pak® 是 Delphon Industries 的注册商标