nanoandmore/HQ:CSC38/No Al/HQ:CSC38/No Al-400/Box of 400 AFM Probes

价格
¥64920.96
货号:HQ:CSC38/NoAl-400
浏览量:127
品牌:NanoAndMore
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商品描述

Applications:

Contact Mode AFM Probes

Description:

Probes of the 38 series have three different contact mode cantilevers on one side of the holder chip. They can be used in various applications. Uncoated

AFM Tip:

  • Rotated
  • 15 µm (12 - 18 µm)*
  • < 8="" nm="">
  • 40°
  • AFM Cantilevers:

    Cantilever A
  • Beam
  • 250 µm
  • 32.5 µm
  • 1 µm
  • 0.09 N/m (0.01 - 0.36 N/m)*
  • 20 kHz (8 - 32 kHz)*
  • Cantilever B
  • Beam
  • 350 µm
  • 32.5 µm
  • 1 µm
  • 0.03 N/m (0.003 - 0.13 N/m)*
  • 10 kHz (5 - 17 kHz)*
  • Cantilever C
  • Beam
  • 300 µm
  • 32.5 µm
  • 1 µm
  • 0.05 N/m (0.005 - 0.21 N/m)*
  • 14 kHz (6 - 23 kHz)*
  • * typical range NanoAndMore 横向-(xy)-校准标准 (2D200)200 nm 间距精确横向校准的标准产品描述标准(2D200)用于对 AFM 扫描机制进行非常精确的 xy 校准。该标准由蚀刻到硅芯片中的具有 200nm 间距的倒置方形金字塔的二维晶格组成。有源区位于芯片的中心,四周是 FindMe 结构。倒金字塔的格子构成了活动区域。硅芯片粘在直径为 12 毫米的不锈钢样品架上。该支架可以磁性或机械固定。该产品将通过 Gel-Pak® 载体运输。本标准是与德国国家标准权威机构 PTB(Physikalisch Technische Bundesanstalt)密切合作制定的。因此,PTB 能够根据国际准则认证该标准。请直接通过www.ptb.de联系工作组 5.25 Scanning Probe Metrology 。Gel-Pak® 是 Delphon Industries 的注册商标