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蚂蚁淘在线 / 品牌中心 / NanoAndMore / nanoandmore/TESP/TESP-W/Box of 385 AFM Probes

nanoandmore/TESP/TESP-W/Box of 385 AFM Probes

价格
￥83569.82
货号：TESP-W
浏览量：101
品牌：NanoAndMore
服务
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商品描述

Cantilever:

F:320kHz
C:42N/m
L:125µm

Applications:

Non-Contact/StandardTappingModeAFMProbes

Description:

NanoWorldPointprobe®NCHprobesaredesignedfornon-contactortapping™modeimaging.ThisprobetypecombineshighoperationstABIlitywithoutstandingsensitivityandfastscanningability.

AllSPMandAFMprobesofthePointprobe®seriesaremadefrommonolithicsiliconwhichishighlydopedtodissipatestaticcharge.TheyarechemicallyinertandofferahighmechanicalQ-factorforhighsensitivity.Thetipisshapedlikeapolygonbasedpyramid.
 
ThisprobewassoldbyVeecoInstrumentsInc.forover10yearsupuntilApril2007.BrukerCorporation,whichacquiredVeecometrologybusiness,isnolongersellingtheoriginalprobewhichhasalwaysbeenmanufacturedbyNanoWorld®.

Uncoated

AFMTip:

    • AFMCantilever:

  • Beam
  • 125µm(120-130µm)*
  • 30µm(25-35µm)*
  • 4µm(3.5-4.5µm)*
  • 42N/m(21-78N/m)*
  • 320kHz(250-390kHz)*
    • *typicalrangeThisproductfeaturesalignmentgroovesonthebacksideoftheholderchip. NanoAndMore 横向-(xy)-校准标准 (2D200)200 nm 间距精确横向校准的标准产品描述标准(2D200)用于对 AFM 扫描机制进行非常精确的 xy 校准。该标准由蚀刻到硅芯片中的具有 200nm 间距的倒置方形金字塔的二维晶格组成。有源区位于芯片的中心，四周是 FindMe 结构。倒金字塔的格子构成了活动区域。硅芯片粘在直径为 12 毫米的不锈钢样品架上。该支架可以磁性或机械固定。该产品将通过 Gel-Pak® 载体运输。本标准是与德国国家标准权威机构 PTB（Physikalisch Technische Bundesanstalt）密切合作制定的。因此，PTB 能够根据国际准则认证该标准。请直接通过www.ptb.de联系工作组 5.25 Scanning Probe Metrology 。Gel-Pak® 是 Delphon Industries 的注册商标